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1.標準校準：建議在平坦的表面上進行測量，并且如果測量對象的材料，尺寸和曲率與ElektroPhysik零板相同，則建議進行校準。
2.單點校準（不使用校準箔進行歸零）：如果允許的測量誤差大為±（讀數(shù)的3％*加上探頭的恒定誤差），則建議使用。 （探頭恒定誤差示例：F.1.6：1μm）。。
3.兩點校準（使用校準箔進行歸零和校準）：如果預期讀數(shù)將接近校準值，并且允許的探頭誤差大為±（1％... 3％of讀數(shù)*（根據(jù)探頭）加上恒定的探頭誤差）
*請參考實驗室條件下提供的校準標準。
4.兩點校準（使用一組兩個校準箔）：
a）建議用于粗糙表面的測量。
b）如果期望的厚度在兩個校準箔片之間，建議在光滑表面上進行準確測量。
5.通過涂層（CTC）進行校準：使用校準箔進行校準。如果測試樣品已涂覆且沒有未涂覆的樣品可用于比較，則建議使用。此方法適用于以下探頭：F05，F(xiàn)1.6，F(xiàn)3和FN1.6（僅含鐵零件），F(xiàn)1.6 / 90，F(xiàn)2 / 90，F(xiàn)10，F(xiàn)20和F50。
請注意：
在本手冊中，“校準箔”一詞適用于所有校準標準，包括通常不被描述為“箔”的那些：厚度分別為2mm，5mm和10m的那些。

校準是進行準確測量的*重要要求。 校準樣品與產(chǎn)品樣品的距離越近，校準和讀數(shù)的準確性就越高。 例如，如果要在直徑為6 mm的ST37（低碳鋼）鋼制圓柱體上測量產(chǎn)品，則未涂覆樣品的校準必須在具有相同直徑的類似質(zhì)量的鋼制圓柱體上進行。
校準樣品必須通過以下方式與產(chǎn)品樣品相對應：
·曲率半徑
·基材材料性能
·基材厚度
·測量區(qū)域的大小
·校準點
注意：校準樣品必須始終與產(chǎn)品本身的測量點相同，尤其是在小零件的角和邊緣的情況下。