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FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾

Fischerscope X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀是一款可移動使用并且應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，它特別適用于鍍層厚度的無損測量及材料分析。適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

測量大型工件的鍍層，如：機械零件和外殼

在電鍍過程中進行移動實時測量

對合金材料進行移動實時檢測

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精力。

XAN500菲希爾X射線測厚儀采用先進的硅漂移探測器能夠達到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。